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產(chǎn)品型號
AX8300Si -
廠商性質(zhì)
代理商 -
更新時間
2025-07-15 -
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產(chǎn)品描述
半導體微聚焦X射線檢測設(shè)備專為半導體封裝與電子元器件設(shè)計的高精度無損檢測設(shè)備，采用微米級聚焦X射線技術(shù)，實現(xiàn)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的二維/三維可視化檢測，滿足半導體行業(yè)對缺陷分析的嚴苛要求。
產(chǎn)品分類
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